KLA lanceert revolutionair X-Ray Metrologie Systeem voor inline procescontrole van geavanceerde geheugenchips.
Afgelopen week kondigde KLA Corporation de lancering aan van het revolutionaire Axion® T2000 X-ray metrologiesysteem voor fabrikanten…
Rubriek: geheugenchips
Micron investeert $ 15 miljard in New Idaho Fab en brengt toonaangevende geheugenproductie naar de VS
Micron Technology, Inc. een van ’s werelds grootste halfgeleiderbedrijven en de enige in de VS…
Applied Materials onthult een uniek eBeam-metrologiesysteem die door lagen met hoge snelheid rechtstreeks kan meten.
Applied Materials heeft vandaag een uniek eBeam-metrologiesysteem onthuld dat een nieuw playbook mogelijk maakt voor…
Nederlandse scale-up Nearfield vult het metrologie-gat in de mondiale chipindustrie
ASML mag er dan in geslaagd zijn technologie te ontwikkelen voor het produceren van nog…
Nieuwe systemen KLA: antwoord op inspectie-uitdagingen steeds ‘hogere’ 3D-structuren chips
KLA heeft twee nieuwe producten aangekondigd: het PWG5™ wafergeometrie-systeem en het Surfscan® SP7XP waferdefect-inspectiesysteem. De nieuwe…
