KLA lanceert revolutionair X-Ray Metrologie Systeem voor inline procescontrole van geavanceerde geheugenchips.

0

Afgelopen week kondigde KLA Corporation de lancering aan van het revolutionaire Axion® T2000 X-ray metrologiesysteem voor fabrikanten van geavanceerde geheugenchips. Fabricage van 3D NAND- en DRAM-chips omvat de precieze vorming van extreem hoge structuren met diepe, smalle gaten en sleuven en andere ingewikkelde architecturale vormen – die allemaal controle op nanoschaalniveau vereisen. De Axion T2000 beschikt over gepatenteerde technologieën die de mogelijkheid bieden om apparaatfuncties met een hoge beeldverhouding te meten met een ongekende combinatie van resolutie, nauwkeurigheid, precisie en snelheid. Door de kleine vormafwijkingen te ontdekken die van invloed kunnen zijn op de prestaties van geheugenchips, helpt de Axion T2000 een succesvolle productie van de geheugenchips te garanderen die worden gebruikt in toepassingen zoals 5G, kunstmatige intelligentie (AI), datacenters en edge computing.

“De nieuwe Axion T2000 X-ray metrologiesysteem is een game changer voor inline procescontrole tijdens de fabricage van geavanceerde 3D NAND- en DRAM-apparaten”, zegt Ahmad Khan, president van de Semiconductor Process Control business unit bij KLA. “Met behulp van transmissieve röntgentechnologie genereert de Axion T2000 snel een complete 3D-visualisatie van structuren met een hoge beeldverhouding in de orde van grootte van 100: 1 of hoger. Van de bovenkant tot de onderkant van deze extreme verticale functies, Axion-gegevens vergemakkelijken een strakke controle van kritieke parameters, zoals breedte, vorm en kanteling. Bovendien vermindert de Axion, door inline te meten, de cyclustijd die nodig is om kritieke opbrengst- en betrouwbaarheidsproblemen op te lossen tijdens de productie van geheugenchips in grote volumes.”

Link magazine editie oktober 2022 | jaargang 24 thema: Afspraken maken en ze ook nakomen. Lees Link digitaal of vraag een exemplaar op: mireille.vanginkel@linkmagazine.nl’

De Axion T2000 is een CD-SAXS-systeem (critical-dimension small angle X-ray scattering) dat gebruikmaakt van unieke röntgentechnologieën om hoge-resolutiemetingen van kritieke afmetingen en 3D-vormen van geheugenapparaatfuncties te produceren. Een bron met hoge flux levert röntgenstralen die door de gehele verticale geheugenstructuur worden verzonden, ongeacht hoe hoog deze vandaag of in de toekomst zal zijn, waardoor complexe apparaatvormen kunnen worden gemeten. Een trap met toonaangevend dynamisch bereik helpt bij het verkrijgen van diffractiebeelden onder meerdere hoeken om rijke 3D geometrische informatie weer te geven. Nieuwe AcuShape-algoritmen® vergemakkelijken het meten van veel kritieke apparaatparameters en extractie van subtiele variaties die de uiteindelijke geheugenchipfunctionaliteit kunnen beïnvloeden. Met deze innovaties produceert de Axion T2000 niet-destructief de dimensionale metrologiegegevens die nodig zijn om geheugenfabrikanten te helpen bij het optimaliseren, bewaken en controleren van belangrijke processtappen inline.

KLA Corporation ontwikkelt toonaangevende apparatuur en diensten die innovatie in de hele elektronica-industrie mogelijk maken. Wij bieden geavanceerde procesbesturings- en procesoplossingen voor de productie van wafers en dradenkruisen, geïntegreerde schakelingen, verpakkingen, printplaten en flatpaneldisplays. In nauwe samenwerking met toonaangevende klanten over de hele wereld ontwerpen onze deskundige teams van fysici, ingenieurs, datawetenschappers en probleemoplossers oplossingen die de wereld vooruit helpen.

Share.

Reageer

Deze site gebruikt Akismet om spam te verminderen. Bekijk hoe je reactie-gegevens worden verwerkt.