B&R : Consequente en eenvoudige fabrieks- en procesengineering

0

In de fabrieksautomatisering en de procesindustrie wordt de tijdsdruk bij het op de markt brengen van nieuwe producten steeds groter. Wisseling van producten betekent vaak een uitgebreide, nieuwe engineering. APROL, gebaseerd op het standaardhardwareplatform van B&R (sinds kort onderdeel van de ABB Group), biedt daarvoor een open, objectgeoriënteerd automatiseringsplatform, waarmee plantoperators deze inspanning aanzienlijk kunnen reduceren. Procesingenieurs moeten in steeds kortere tijd verschillende productiehoeveelheden, nieuwe producten en recepturen zowel mechanisch als softwarematig aanpassen. Procesbesturing en fabrieksautomatisering zijn in de loop der jaren echter opgebouwd uit hardware- en softwarecomponenten van verschillende fabrikanten. Bij deze veranderingen zijn vaak veel ingenieurs op verschillende plaatsen betrokken en moet de productie ook nog gewoon doorgaan. Kortom, een flinke uitdaging voor alle partijen.

De standaard APROL-bibliotheek PAL (Process Automation Library) omvat meer dan 100 gestandaardiseerde controlemodulen die alle belangrijke procesbesturingsfuncties afdekken, zoals Version Management, Security Login, Audit Trail en Change Control. Ook zijn er modulen voor Advanced Process Control, Model Predictive Control, Performance Monitoring, Condition Monitoring en Asset Monitoring beschikbaar. Voorgeprogrammeerd en getest, zodat de gebruiker ze alleen nog hoeft te activeren en parametreren. Hij kan de bestaande functionaliteiten eenvoudig uitbreiden met eigen bedrijfsknowhow. Tevens kunnen meerdere ontwikkelaars gelijktijdig aan een project werken. APROL is probleemloos te koppelen aan bestaande procesbesturings- en SCADA-systemen. Het platform is open voor alle belangrijke veldbustechnologieën en biedt een compleet uniform automatiseringssysteem vanaf veld- tot op managementniveau.

Share.

Reageer

Deze site gebruikt Akismet om spam te verminderen. Bekijk hoe je reactie-gegevens worden verwerkt.

Geverifieerd door ExactMetrics